

第三代
半导体测试家族
Third generation semiconductor testing family
分类

KGD handler
全自動測試,支援SiC晶圓、Waffle Pack、Tape&Reel上料與下料。 多工位並行測試,不同工位支援不同溫度與測試項目。 靜態、動態、雪崩功能測試,且測試順序可調。 高溫預熱與晶片表面防氧化保護。 高溫測試,溫度範圍:室溫~200°C。 加電針卡為密封設計,支援充氮氣保護防高壓打火與氮氣壓力監測。
懸浮電源 |
多Site並行 |
多通道高精度 |
支援多種擴展 |
型號 | KGD handler |
產品介紹 |
全自動測試,支援SiC晶圓、Waffle Pack、Tape&Reel上料與下料。 |
功能 |
• 多工位並行測試,不同工位支援不同溫度與測試項目。 • 靜態、動態、雪崩功能測試,且測試順序可調。 • 高溫預熱與晶片表面防氧化保護。 • 高溫測試,溫度範圍:室溫~200°C。 • 加電針卡為密封設計,支援充氮氣保護防高壓打火與氮氣壓力監測。 |
Recommend推荐产品
中国·必发集团-www.7790.com|登录入口 版权所有 powertechsemi.com © 2015 | 隐私政策 | Sitemap 粤ICP备17127080号-1


