KGD（Known Good Die）測試解決方案
支援高溫常溫測試：DC+SW+UIL+DC&RG； 支援測試針卡保護方案； 提供測試+分選整套方案；
|
針卡保護 |
兩顆並測 |
高溫常溫 |
數據合併 |
| 型號 | KGD測試解決方案 |
| 產品優勢 |
• 低雜散解決方案； • 獨家針卡保護專利技術； • 過載欠壓保護； • 一次測試兩顆晶片； • 支援高溫加熱 |
|
|
|
Recommend推荐产品
|
中国广东省佛山市南海国家高新区新光源产业基地光明大道16号 |
|
0757 83207313 (销售) |
|
0757 83208786 (销售) |
|
info@powertechsemi.com |
中国·必发集团-www.7790.com|登录入口 版权所有 powertechsemi.com © 2015 | 隐私政策 | Sitemap 粤ICP备17127080号-1
